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前言
目前，全球集成电路测试设备市场规模快速增长，然而，国内高端芯片测试设备领域仍长期面临技术壁垒。
本期【产研先锋】专栏将聚焦一款由南京铂芯技术有限公司打造的硬核产品——BX3100数字集成电路测试系统（ATE）。它以卓越的性能，为提升芯片测试效率与品质管控能力提供了强有力的国产化解决方案。
公司简介
南京铂芯技术有限公司，专注于集成电路测试产品的研发、制造、销售与服务。公司秉承“客户第一、诚实守信、团结协作、创新发展”的价值观，以“为集成电路产业提供最佳测试解决方案”为使命，致力于助力国家集成电路产业发展。
团队及人才
项目团队由多位拥有十多年行业经验的成员组建，拥有强大的研发实力。
首席专家-戴志坚：电子科技大学教授，电子科大深圳高等研究院集成电路测试技术重点实验室主任。长期从事集成电路测试技术研究，主持完成数十项省部级及企业级科研项目，拥有20余年科研与近10年大型企业工作经验。
技术总体专家-何栋梁：硕士，精通数字及Soc类ATE系统，承担国家科技部仪器重大专项，主持及参与三代集成电路测试系统研发。
运营与市场管理-庞春：高级工程师，拥有多年电子测量行业经验和10年以上项目及公司运营管理经验，负责公司市场开拓与运营。
应用开发负责人-李佳霖：电子科技大学本硕博，擅长集成电路测试设备数字系统开发。负责完成10余款高端芯片的测试开发，申报发明专利3项，软著10项。
其他技术成员数名：本科及以上学历，成员均参与过国家级重大专项，独立完成2-3代测试系统研发，共获得发明专利6项，软著10多项。
产品介绍
BX3100数字集成电路测试系统，具有512路数字通道，32SITE并测能力，适用于MCU、Flash、LDO、ADC、DAC、Logic等芯片的CP和FT测试。
产品特点
数字通道内建PPMU/频率测量单元
Source/Capture向量测试混合信号芯片
最高2GB 存储深度 SCAN向量
ALPG向量生成测试存储芯片
数据整合分析
最大数据速率：400Mbps
向量存储深度: 128M
最大数字通道：512（64*8）
最大并测数量： 32 Site
器件电源数量：32（16*2）
器件电源电压： -10V~+10V/最大8A
频率测量单元：512（64*8）
边沿定位精度： ±500ps
参数测量电压： -1.5V~+6.5V/-5V~+10V
参数测量电流：±2uA/±20uA/±200uA±2mA/±50mA
BX3100数字集成电路测试系统的成功研发与应用，是国产高端集成电路测试装备领域迈出的坚实一步。未来，分中心将与南京铂芯技术有限公司继续携手，持续创新，为“中国芯”的崛起提供更加强大的测试保障！
欢迎洽商合作！
企业联系人
庞春 18112989831
