集成电路、光电芯片TCB热压键合技术与装备

成果单位:
发布时间:2025/12/17
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研发团队

华中科技大学

技术领域

光电融合

项目简介

封装技术瓶颈制约高速光模块发展
传统PD打线键合存在信号延迟大、散热差、引脚密度低等缺陷,难以满足高速光电芯片小型化、高密度及高可靠性需求,严重限制800G/1.6T光模块性能升级。
倒装热压键合技术突破传统封装瓶颈
通过芯片与基板直接倒装热压键合(TCB),实现极短信号路径、低寄生电感、高效散热及高I/O密度,适配高速光模块封装需求,破解传统打线方式物理极限。
高密度封装核心优势
技术显著缩短信号延迟,提升高速传输性能;强化散热支撑高功率器件运行;引脚密度提升3-5倍,兼容2.5D/3D IC先进封装,为AI芯片、物联网设备提供底层技术支撑。
应用前景:赋能高算力场景技术演进
已开发样品验证技术可行性,未来将向更小尺寸、更高可靠性方向迭代,广泛应用于高速通信、数据中心、Al芯片及光模块领域,推动高算力场景封装技术革新。