3D闪存存储器件可靠性模型与纠错码技术

成果单位:
发布时间:2025/12/17
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研发团队

华中科技大学

技术领域

先进通信

项目简介

3D闪存因高密度堆叠设计导致阈值电压窗口变窄、写入耐久性下降及误码率攀升,严重制约A1、5G、数据中心等场景下的存储性能与数据可靠性。
构建通用化高精度可靠性建模与自适应纠错系统,基于机器学习精准预测闪存误码行为,开发动态调整LDPC纠错算法,提升数据读写效能与容错能力。
采用神经网络+集成学习模型实现跨芯片工况误码率预测;创新自适应码率与错误感知调权LDPC算法,减少迭代次数并提高纠错效率;显著降低读延迟,支持未来高层堆叠架构,适配多厂商芯片与平台环境。
技术处于研发阶段,可优化3D NAND控制器设计与闪存系统,未来将应用于消费电子、企业级SSD、服务器及数据中心等对存储可靠性要求严苛的领域。